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- 分析・試作サービス
当社でご依頼を承っております分析と試作のサービス内容を一覧にまとめています。
ガラスの試作
当社では、お客様のご要望に沿ってガラスの試作を行っています。
リンクがある項目は、「技術情報」の関連ページへリンクされています。分析や試作に関して詳しい原理・方法や分析事例などをお知りになりたい場合は、各リンクをクリックしてご覧ください。
また、内容に関するお問い合わせは、「分析・試作に関するお問い合わせ」フォームまたはお電話やFAXにてお問い合わせください。
ガラス試作 |
分析対象物から探す
最初に分析対象物の種類を下のタブから選択してください。その下に当社で実施可能な分析項目の一覧が表示されます。
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また、内容に関するお問い合わせは、「分析・試作に関するお問い合わせ」フォームまたはお電話やFAXにてお問い合わせください。
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ガラス・セラミックス・金属の分析
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薄膜・デバイスの分析
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有機物の分析
ガラスに関する分析は、当社におまかせください。ガラス原料の分析からガラスの各種物性の測定まで、一貫して評価を行うことができます。
ガラス原料粒度分析｜組成分析（化学分析、高周波誘導プラズマ発光分光分析(ICP-AES)、原子吸光・炎光分析(AA)、蛍光X線分析(XRF)） |
ガラス高温物性粘性測定（球引き上げ法、貫入法、ビームベンディング法、歪点・徐冷点（ISO法））｜高温電気抵抗｜発生ガス分析｜熱膨張率(TMA)｜示差熱分析(DTA)｜熱重量測定(TG)｜熱伝導率 |
ガラス溶融条件 |
ガラス欠点 |
機械的特性曲げ強度｜面、エッジ強度｜硬度｜弾性率 |
光学的特性分光透過率・分光反射率｜赤外分光透過率・赤外分光反射率｜分光放射率特性計算｜分光放射率測定｜ヘイズ率 |
電気的特性体積抵抗｜誘電特性 |
物性一般比重 |
異物・欠点の分析実体顕微鏡観察｜偏光顕微鏡観察｜電子プローブマイクロアナリシス(EPMA)｜走査型電子顕微鏡観察(FE-SEM) |
組成分析 |
表面分析（組成・状態）電子プローブマイクロアナリシス(EPMA)｜X線光電子分光法(XPS)｜飛行時間型二次イオン質量分析 (ToF-SIMS)｜走査型プローブ顕微鏡(SPM)｜触針式段差計 |
加熱時発生ガス分析熱重量分析-質量分析(TG-MS)｜熱重量分析-ガスクロマトグラフ質量分析(TG-GC/MS) |
形態観察 |
劣化・耐候性試験化学的耐久試験｜ガラス溶出試験 |
機械的特性残留応力｜硬度｜耐摩耗性 |
光学的特性分光透過率・分光反射率｜赤外分光透過率・赤外分光反射率｜ヘイズ率 |
異物・欠点の分析実体顕微鏡観察｜偏光顕微鏡観察｜電子プローブマイクロアナリシス(EPMA)｜走査型電子顕微鏡観察(FE-SEM) |
表面分析（組成・状態）電子プローブマイクロアナリシス(EPMA)｜X線光電子分光法(XPS)｜飛行時間型二次イオン質量分析 (ToF-SIMS)｜走査型プローブ顕微鏡(SPM)｜触針式段差計｜膜厚測定（SEM, 触針式段差計） |
劣化・耐候性試験化学的耐久試験｜ガラス溶出試験 |
形態観察 |
分子構造解析赤外分光分析(FT-IR) |
表面分析 |
形態観察走査型電子顕微鏡観察(FE-SEM)｜表面粗さ測定（走査型プローブ顕微鏡(SPM)、触針式段差計） |
光学的特性分光透過率・分光反射率｜赤外分光透過率・赤外分光反射率｜分光放射率特性計算｜分光放射率測定｜ヘイズ率 |
クロマトグラフ揮発性物質の分離分析(GC/MS)｜加熱時発生ガス分析(TG-MS, TG-GC/MS) |