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- 分析・試作技術紹介
当社で行っている分析や試作についてご紹介します。
分野別に分けられている分析項目や試作項目のリンクをクリックすると、原理や分析事例などの情報がご覧いただけます。
ここに掲載したもの以外にも、当社では様々な分析や試作を行っています。それらの一覧は、上のメニューの「分析・試作サービス」よりご覧ください。
また、内容に関するお問い合わせは、「分析・試作に関するお問い合わせ」フォームまたはお電話やFAXにてお問い合わせください。
ガラスの分析
| 失透試験 | 失透試験（液相温度、結晶相成長速度の測定） |
|---|---|
| ガラス欠点解析 | ガラス中の異物分析 |
| 泡中のガス成分の分析 | |
| 溶存ガス | ガラス中の溶存ガスの分析 |
| 粘性測定 | ガラスの粘性測定・特性温度測定 |
| 高温域（球引き上げ法） | |
| 中温域（貫入法） | |
| 低温域（ビームベンディング法） | |
| 歪点・徐冷点（ISO法） | |
| ガラス高温物性 | 高温電気比抵抗測定（四探針法） |
| 熱物性 | 熱膨張測定（線膨張率測定：TMA） |
| 熱収縮（伸縮）量測定 | |
| ガラス強度試験 | ガラスの破損解析 |
| 薄板ガラスのエッジ強度測定 | |
| 劣化試験 | ガラスの溶出試験 |
一般物性評価
| 光学特性評価 | 分光光学測定（透過率・反射率） |
|---|---|
| 分光放射率測定 | |
| 分光エリプソメトリー（光学定数測定） | |
| 分光エリプソメトリー（測定方法・解析方法） | |
| 分光エリプソメトリー（解析事例-1） | |
| 分光エリプソメトリー（解析事例-2） | |
| 電気特性評価 | 表面抵抗率測定 |
形態観察・解析
| 形態観察・解析 | 電界放射型走査型電子顕微鏡(FE-SEM) |
|---|---|
| 透過型電子顕微鏡(TEM)観察 | |
| FIB加工とSEM・TEM観察 | |
| FIB-SEM観察 | |
| FIB-TEM観察 | |
| 走査型プローブ顕微鏡(SPM)観察 |
有機分析
| 分子構造解析 | 赤外分光分析(FT-IR) |
|---|---|
| クロマトグラフ | ガスクロマトグラフ質量分析(GC/MS) |
| 熱重量測定-質量分析(TG-MS) | |
| 熱重量測定-ガスクロマトグラフ質量分析(TG-GC/MS) |